Very Large Scale Integration


Very Large Scale Integration

Der Integrationsgrad bezeichnet die absolute Anzahl Transistoren in einem Integrierten Schaltkreis (engl. Integrated Circuit, IC). Der Integrationsgrad ergibt sich aus der Integrationsdichte (Anzahl Transistoren pro Flächeneinheit) und der Chipgröße (Fläche des IC).

Der Integrationsgrad wird auch logische Komplexität genannt, wenn anstelle von Transistoren Logikgatter (gates) gezählt werden. Ein Gatter entspricht etwa vier Transistoren, wie sie in der vorherrschenden CMOS-Technologie für ein ungepuffertes NAND-Gatter mit zwei Eingängen erforderlich sind. Komplexe Logikschaltungen wie Field Programmable Gate Array (FPGA) sind intern oft nicht aus einzelnen Gattern realisiert, sondern beispielsweise mit Lookup-Tabellen. In diesem Fall werden Gatteräquivalente (gate equivalents) gezählt, d.h. die Anzahl der Logikgatter, die zur Realisierung dieser Funktionalität notwendig wären. Komplexitätsangaben in Gatteräquivalenten lassen sich nur bedingt zwischen Herstellern vergleichen, da bei diesen Angaben große Ermessensspielräume vorhanden sind.

Integrationsgrad bzw. logische Komplexität werden sehr häufig mit Bezeichnungen wie SSI, MSISp, LSI oder VLSI (seltener auch ULSI oder SLSI) charakterisiert. Diese Begriffe sind uneinheitlich definiert und in der Literatur finden sich sehr unterschiedliche Zahlen. Bei Prozessoren, die aus mehr als 500 Millionen Transistoren bestehen (z.B.: AMD Opteron), haben diese Bezeichnungen an Bedeutung verloren.

Abk. Bezeichnung Komplexität (Gatteräquivalente)
typische Interpretation Tanenbaum [1] Texas Instruments [2]
SSI Small Scale Integration 10 1–10 unter 12
MSI Medium Scale Integration 100 10–100 12–99
LSI Large Scale Integration 1.000 100–100.000 100–999
VLSI Very Large Scale Integration 10.000–100.000 ab 100.000 ab 1.000
ULSI Ultra Large Scale Integration 100.000–1.000.000
SLSI Super Large Scale Integration 1.000.000–10.000.000

Quellen

  1. Andrew S. Tanenbaum: Computerarchitektur. Strukturen - Konzepte - Grundlagen. 5. Aufl. ISBN 3-8273-7151-1. S. 167.
  2. Texas Instruments: The TTL Data Book for Design Engineers. Second Edition. Texas Instruments Incorporated, Dallas, TX 1976. S. 3-7

Siehe auch


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