Built-in-self-test


Built-in-self-test

Built-in-self-test (BIST) bedeutet, dass ein elektronischer Baustein eine integrierte Test-Schaltung besitzt, welche Testsignale erzeugt und meist auch mit vorgegebenen richtigen Antwort-Signalen vergleicht, so dass ein Testresultat an das ATE (Automatic Test Equipment) ausgegeben werden kann. Built-in-self-tests sind durch automatisierte Design-Prozesse immer einfacher zu implementieren und nehmen bei der heute üblichen großen Anzahl von Schaltelementen relativ wenig Platz ein, reduzieren aber den materiellen und zeitlichen Aufwand beim Testen erheblich. Built-in-self-tests werden auch zum regulären Selbsttest von Prozessoren während ihrer Anwendung oder beim Ein- bzw. Ausschalten verwendet, um Fehlfunktionen rechtzeitig zu erkennen und Folgeschäden zu vermeiden.

Es existieren verschiedene Arten von Built-in-self-tests:

  • Analog- und Mixed-Signal-BIST
  • Boundary Scan Test
  • Logik-BIST
  • Prozessor-BIST
  • Signaturanalyse
  • Speicher-BIST - z. B. mit dem Marinescu-Algorithmus

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