Automatic Test Equipment

Automatic Test Equipment (ATE) ist ein allgemeiner Begriff für messtechnische Apparaturen, die von der Chip- und Elektronik-Industrie während der Produktion zum testen benutzt werden.

ATEs führen folgende Tests durch:

  • Marginales Testen, beispielsweise ob der Baustein beim Anlegen von elektrischen Signalen in irgendeiner Weise reagiert, Kontakttest;
  • Parametertest: Messen von Parametern wie Widerstand, Kapazität, Durchlassspannung, Leckstrom;
  • Funktionstest: Messen der kompletten Funktion des Bausteins (logische Operationen, Schreiben und Lesen von Speicherchips)

Aufbau

Das ATE muss eine dem Testobjekt (Device Under Test, DUT) angepasste Kontaktiervorrichtung besitzen, beispielsweise Nadelkarten für Wafertests, Sockel für Chip- und Modultests, gefederte Kontaktstiftadaptierungen oder Starrnadeladapter für die Leiterplattentests.

Die elektrischen Test-Signale werden von der Testelektronik (Testmuster-Generator, Pin-Elektronik, Signal-Formatter) erzeugt, dem DUT zugeführt und die Antwortsignale des DUT in einem Komparator mit den zu erwartenden fehlerfreien Signalen verglichen. Weicht das Antwortsignal von dem erwarteten Signal ab, wird das DUT als fehlerhaft markiert und ausgesondert.

Anforderungen

Da das ATE in seiner Leistungsfähigkeit den zu testenden Produkten überlegen sein muss, sind die Geräte meist sehr teuer und haben einen relativ hohen Anteil an den Produktionskosten, bis zu 30 % bei sehr komplexen Bauteilen. Der Trend geht deshalb zu immer höherer Parallelität (gleichzeitiges Testen einer großen Anzahl von Bauteilen) und höherer Geschwindigkeit mit Taktfrequenzen im GHz-Bereich.

Bei digitalen Schaltungen, die Flip-Flops und/oder RAM-Speicher enthalten, ergibt sich für das ATE das Problem, dass die inneren Zustände nicht direkt ausgelesen oder verändert werden können. Aktuelle Bausteine höherer Komplexität (Mikrocontroller, PLDs) etc. haben daher separate Testschaltungen eingebaut, mit deren Hilfe über eine separate Diagnoseschnittstelle, den JTAG-Bus, die internen Zustände beobachtet und geändert werden können. (Siehe auch Boundary Scan Test)

Das Testen von komplexen Systemen, wie z. B. System-on-a-Chip- und mixed-Signal-Bauelementen (MSIC) mit sehr unterschiedlichen Signalen (analog, digital) bei sehr hohen Frequenzen, ist derzeitig die größte Herausforderung für die ATE-Hersteller.

Zusätzlich werden Funktionen der ATEs, als so genannte built-in-self-test-Einheiten (BIST), in die zu testenden Bauteile verlagert. Das verringert die Kosten für ATEs und reduziert Störungen durch die Leitungen/Kontaktiervorrichtungen zwischen ATE und zu testendem Bauteil.

Siehe auch


Wikimedia Foundation.

Schlagen Sie auch in anderen Wörterbüchern nach:

  • Automatic test equipment — Automatic/automated test equipment (ATE) is any automated device that is used to quickly test printed circuit boards, integrated circuits, or any other related electronic components or modules. Nowadays, ATE devices are essentially always… …   Wikipedia

  • automatic test equipment — automatinis bandymų įrenginys statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. automatic test equipment vok. automatische Testeinrichtung, f rus. автоматическая установка для испытаний, f pranc. équipement de test automatique, m …   Radioelektronikos terminų žodynas

  • automatic test equipment — (ATE) An electronic equipment for testing ignition, wiring, fuel injection systems, etc …   Dictionary of automotive terms

  • versatile automatic test equipment — universalioji automatinė tikrinimo įranga statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. versatile automatic test equipment vok. automatische Universaltestapparatur, f rus. универсальная аппаратура автоматизированного контроля, f pranc.… …   Radioelektronikos terminų žodynas

  • test equipment — See automatic test equipment …   Dictionary of automotive terms

  • Electronic test equipment — (sometimes called testgear ) is used to create signals and capture responses from electronic Devices Under Test (DUTs). In this way, the proper operation of the DUT can be proven or faults in the device can be traced and repaired. Use of… …   Wikipedia

  • Test Engineering — (TE) is generally defined as the application of one or more engineering branches (such as Electrical Engineering, Mechanical Engineering, Genetic Engineering, etc.) and/or the application of one or more pure scientific disciplines (such as… …   Wikipedia

  • Test probe — Typical passive oscilloscope probe being used for testing an integrated circuit. A test probe (test lead, test prod, or scope probe) is a physical device used to connect electronic test equipment to the device under test (DUT). They range from… …   Wikipedia

  • Test engineer — A (hardware) test engineer (TE) is a professional who determines how to create a process that would test a particular product in manufacturing, or related area like RMA department, in order to guarantee that the product will be shipped out with… …   Wikipedia

  • Automatic dependent surveillance-broadcast — (ADS B) is a cooperative surveillance technique for air traffic control and related applications. An ADS B out equipped aircraft determines its own position using a global navigation satellite system and periodically broadcasts this position and… …   Wikipedia

Share the article and excerpts

Direct link
Do a right-click on the link above
and select “Copy Link”